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Método PASADO del crecimiento de Czochralski del substrato del cristal no cristalino de la perovskita

Certificación
China Kinheng Crystal Material (Shanghai) Co., Ltd. certificaciones
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Método PASADO del crecimiento de Czochralski del substrato del cristal no cristalino de la perovskita

Método PASADO del crecimiento de Czochralski del substrato del cristal no cristalino de la perovskita
Método PASADO del crecimiento de Czochralski del substrato del cristal no cristalino de la perovskita

Ampliación de imagen :  Método PASADO del crecimiento de Czochralski del substrato del cristal no cristalino de la perovskita

Datos del producto:
Lugar de origen: China
Nombre de la marca: Kinheng
Certificación: ISO
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1pc
Precio: Negotiable
Detalles de empaquetado: caja de la espuma
Tiempo de entrega: 4-6 semanas
Condiciones de pago: T/T, Paypal
Capacidad de la fuente: 10000pcs/year

Método PASADO del crecimiento de Czochralski del substrato del cristal no cristalino de la perovskita

descripción
Método del crecimiento: Czochralski Nombre de producto: Substrato PASADO
Nombre completo: Substrato cristalino del tantalato de aluminio del Lantano-estroncio solo fórmula química: (LaAlO3) 0,3 (Sr2TaAlO6) 0,7 o (La0.18Sr0.82) (Al0.59Ta0.41) O3
Crystal Orientatio: (100), (110), (111) Grueso: 0.5m m y 1.0m m disponibles
Polaco superficial: Solo pulido lateral, pulido lateral doble Aspereza: Ra < 0,5 nanómetros
Alta luz:

Substrato PASADO Czochralski

,

Cristal no cristalino de la perovskita

,

Substrato PASADO 6.5Mho

Solo substrato cristalino del substrato PASADO cristalino no cristalino de la perovskita

 

Tiene POR ÚLTIMO la estructura cristalina de la perovskita, y es de uso general como solo substrato cristalino para el crecimiento de la estructura cúbica fina epitaxial de films.LAST y el parámetro del enrejado de 3,868 Å hace compatible para el crecimiento epitaxial de una amplia gama de película fina del óxido de la perovskita con una tensión relativamente baja.

 

Propiedades:

 

Método del crecimiento Crecimiento de la CZ
Crystal System Cúbico
Constante cristalográfico del enrejado a= 3,868 A
Densidad (g/cm3) 6,74
Punto de fusión (℃) 1840
Dureza (Mho) 6,5
Conductividad termal 10x10-6 K

 

Ventaja:

1. Superconductores des alta temperatura

 

Tiros del producto:

Método PASADO del crecimiento de Czochralski del substrato del cristal no cristalino de la perovskita 0

 

FAQ:

1.Q: ¿Es usted fabricante de la fábrica?

: Sí, somos fabricante con 13 años de experiencia en la industria cristalina del scintillator y suministramos muchas marcas famosas buena calidad y servicio.

 

2.Q: ¿Dónde está su mercado principal?

: Europa, América, Asia.

Contacto
Kinheng Crystal Material (Shanghai) Co., Ltd.

Persona de Contacto: Ivan. wang

Teléfono: 18964119345

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