China oblea de semiconductor

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  Radiografía de la oblea de semiconductor de CZT y modulación óptica del laser del detector del rayo gamma

  Cristal:CdZnTe CZT

  Tipo de la conductividad:Tipo de P

  Orientación:(211), (111)

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  Alto substrato infrarrojo solo Crystal Substrate del GaAs de la transmitencia

  Opción dopada:Ningunos, Si, Cr, FE, Zn

  Tamaños (milímetros):10x10m m

  Aspereza superficial:Aspereza superficial (Ra): <= 5A

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  Infrarrojo de la oblea de semiconductor de GE del substrato de GE e industria de IC

  Método del crecimiento:Método de Czochralski

  Estructura cristalina:M3

  Constante de célula de unidad:a=5.65754 Å

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  Substrato termal excelente de la oblea del carburo de silicio de las propiedades mecánicas sic

  Artículo:2 N-tipo de la pulgada 4H

  diámetro:2inch (50.8m m)

  Grueso:350+/-25um

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  Sic eficacia fuerte de la velocidad rápida de la oblea de semiconductor pequeña gran rentable

  Nombre de producto:Sic substrato, sic oblea de semiconductor

  Nombre completo:Carburo de silicio Crystal Substrate

  fórmula química:Sic

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  Substrato de PMN-PT Crystal Semiconductor Wafer Single Crystal

  Estructura:R3m, romboédrico

  enrejado:a0 ~ 4.024Å

  Punto de fusión (℃):1280

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  Alto substrato solo Crystal Substrate el hacer juego de enrejado MCT GaAs

  Nombre de producto:Substrato del GaAs

  Material:Cristal del arseniuro de galio

  Garantía:un año

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  Proyección de imagen de la oblea de semiconductor de CdTe del substrato de CdTe altas y eficacia de la detección

  Nombre de producto:Oblea de semiconductor de CdTe

  Nombre completo:Telururo de cadmio

  fórmula química:CdTe

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  Semiconductor Crystal Wafer Sensor Solar Cell de GE y usos infrarrojos de la óptica

  Nombre de producto:Oblea de semiconductor de GE

  fórmula química:GE

  Tamaño:10x3,10x5,10x10,15x15, 20x15,20x20, dia2” x 0.33m m dia2” x 0.43m m 15 x 15 milímetros

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  Alta tensión y oblea de semiconductor baja de la pérdida dieléctrica PMN-PT solo Crystal Substrate

  Nombre de producto:Sustrato monocristalino PMN-PT

  fórmula química:Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3

  Orientaciones de cristal:(001), (110), (111)

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  Detector de semiconductor planar de la oblea de semiconductor de la seguridad de patria CZT

  Nombre de producto:Punta de prueba de CZT

  Material:CdZnTe

  Densidad:5,8 g/cm3

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  Detección industrial planar de la radiación del espacio del NDT del detector de semiconductor de CZT

  Nombre de producto:Punta de prueba de CZT

  Material:CdZnTe

  Densidad:5,8 g/cm3

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